募集要項
- 仕事内容
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■FIB（集束イオンビーム）、SEM、TEMを用いた電子デバイスの構造解析を担当していただきます。
【具体的には】
・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工。
・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート。
・最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR。
※出向となります。
- 応募資格
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- 必須
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※以下いずれかを満たす方
・電子デバイスの物理解析の経験があること
・電子顕微鏡による材料分析の経験があること
- 雇用形態
- 正社員
- 勤務地
- 滋賀県
- 勤務時間
- 09:00 - 17:30（コアタイム：00:00 - 00:00）
- 年収・給与
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500万円～1100万円(経験能力考慮の上優遇)
昇給1回、賞与2回
- 待遇・福利厚生
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【保険】
健康保険、雇用保険、労災保険、厚生年金
【諸手当】
通勤手当、住宅手当、資格手当、家族手当
【待遇・福利厚生】
独身寮・社宅、体育施設、契約保養所、確定拠出型企業年金、財形貯蓄制度、住宅融資制度、従業員持株会、グループ生命保険 など
- 休日休暇
- 年間120日、夏期休暇、年末年始、有給休暇、慶弔休暇
