募集要項
- 仕事内容
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FIB(集束イオンビーム）、SEM、TEMを用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。主要な業務は以下の通りです。
・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工。
・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート。
・最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR
- 応募資格
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- 必須
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・電子デバイスの物理解析の経験があること
・電子顕微鏡による材料分析の経験があること
- 歓迎
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・FIB装置の使用経験があること
・SEM、TEMに関する専門知識
- 雇用形態
- 正社員
- 勤務地
- 大津市
- 勤務時間
- 9:00～17:30 ※フレックスタイム制度あり/標準労働時間7.5時間
- 年収・給与
- 600万円 ～ 900万円
- 待遇・福利厚生
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◆ 待遇: 通勤手当、時間外手当、健康、厚生、雇用、労災保険加入、住宅、宅地融資制度、従業員持株会、確定拠出年金、グループ生命保険、当社福祉会、独身寮、社宅、社員クラブ、診療所、保養所、他
◆ 受動喫煙対策: 屋内原則禁煙（喫煙室あり）
- 休日休暇
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完全週休2日制、祝祭日、年末年始、年次有給休暇／初年度16日、慶弔休暇、年間休日120日
- 選考プロセス
- 応募受付→書類選考→人事、部門面接／筆記試験 (SPI)→最終面接→内定→入社
